英國牛津cmi243鍍層測厚儀

1、采用基于相位的電渦流技術，集測量精密、價格合理、質量優勢于一體的手持式測厚儀。

2、為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量，鐵質底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。

3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性。

4、為了讓客戶能以低成本購買243E免去了對多探頭、操作培訓和持續保養的需要。

測量技術：

一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的測量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術應用到243E,使其達到了±3%以內（對比標準片）的準確度和0.3% 以內的精確度。

牛津儀器對電渦流技術的應用，將底材效應最小化，使得測量準確且不受零件的幾何形狀影響。

另外，儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準。

cmi243鍍層測厚儀

測量范圍：

技術參數及功能：

ECP-M探頭規格(mm)

243E英國牛津cmi243鍍層測厚儀

是一款靈便、易用的儀器，為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量鐵質底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。這款測厚儀是緊固件行業應用的工具。采用基于相位的電渦流技術。

243E手持式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準確性和精密性。為了讓客戶能以低成本購買。OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續保養的需要。

牛津涂層測厚儀

牛津儀器公司提供高一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效

應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的測量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術應用到243E,使其達到了±3%以內（對比標準片）的準確度和0.3% 以內的精確度。牛津儀器對電渦流技術的應用，將底材效應小化，使得測量值且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準。ECP-M探頭為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量鐵質底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。